一种基于聚类算法的相控阵阵面测温点快速稀疏化方法

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一种基于聚类算法的相控阵阵面测温点快速稀疏化方法
申请号:CN202511117530
申请日期:2025-08-11
公开号:CN120763605A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于聚类算法的相控阵阵面测温点快速稀疏化方法,包括以下步骤:S1、求解相控阵阵面在升温过程和降温过程的温度场;S2、通过聚类算法对测温点进行聚类划分,将相似的测温点划分为同一区域;S3、根据聚类划分情况求解不同聚类中心个数情况下最优的测温点稀疏化的测温点排布情况和重构精度;S4、通过多目标优化方法求解最优的聚类中心个数,以最优的聚类中心个数下对应的测温点排布情况作为聚类算法稀疏化的结果。根据本发明,快速稀疏化有源相控阵阵面测温点数量并优化测温点的位置,实现以较少测温点高精度重构阵面温度场的目的,具有稀疏化速度快、重构精度高的优点。
技术关键词
测温 稀疏化方法 聚类算法 重构 初始聚类中心 误差曲线 有源相控阵 精度 插值方法 插值法 线性 参数 代表 元素 因子 坐标