一种电子器件的功耗检测方法、装置、设备、存储介质

本申请公开了一种电子器件的功耗检测方法、装置、设备、存储介质及计算机程序产品，该方法包括：获取待检测电子器件的多个功耗因子的状态参数；基于所述电子器件的多个功耗因子的状态参数，确定所述电子器件的功耗值；在所述电子器件的功耗值异常的情况下，调整所述电子器件的至少一个第一功耗因子的状态参数，以优化所述电子器件的功耗值。