一种CIS探针卡量测设备的校准方法

本发明涉及一种CIS探针卡量测设备的校准方法，包括步骤1：测试前，先把用于固定待测产品的产品支架调试至预设高度；步骤2：获取分别与各类待测产品尺寸一致的多个校准块，获取分别适配各类待测产品的多个校准座，将一校准块通过对应的校准座安装于产品支架中；步骤3：在校准块前方设置光源，在校准块后方设置光传感器，调节光传感器的水平和垂直角度，使光源、校准块和光传感器三者所在平面平行；步骤4：拆下所述校准块，换上对应的待测产品，开始进行测试；步骤5：测试完成后，基于补偿算法补偿所述光传感器的输出值，得到校准结果。本发明能够消除光源在不同位置上光强度、照度等参数的偏差，实现镜头模组的光学参数检测。