SRAM连接性验证方法、装置、设备及可读存储介质

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SRAM连接性验证方法、装置、设备及可读存储介质
申请号:CN202511126434
申请日期:2025-08-12
公开号:CN120611674B
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
一种SRAM连接性验证方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括:从SoC的设计文档中提取有效信息并记录在标准化中间文件中;在进行RTL仿真前,检测所述标准化中间文件是否有误;若所述标准化中间文件无误,则基于所述标准化中间文件生成每个子系统的测试用例以供对每个子系统中的SRAM进行连接性验证。通过本申请,在进行RTL仿真前确保了标准化中间文件的正确性即确保了设计文档的正确性,避免了后期仿真后才发现问题,导致验证滞后、增加验证时长;基于无误的标准化中间文件自动生成测试用例,减少了人工操作;综合而言,提高了SRAM连接性验证效率。
技术关键词
层次结构信息 验证方法 子系统 系统级芯片 验证设备 验证装置 生成测试用例 可读存储介质 处理器 程序 覆盖率 模块 存储器 计算机 格式 模板 数据