晶圆处理方法、边缘匀胶方法以及边缘匀胶装置

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晶圆处理方法、边缘匀胶方法以及边缘匀胶装置
申请号:CN202511131273
申请日期:2025-08-13
公开号:CN120900889A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明申请涉及晶圆处理方法、边缘匀胶方法以及边缘匀胶装置,属半导体制造及微纳加工技术领域,晶圆边缘匀胶装置包括:载台、喷胶胶嘴,喷胶胶嘴工作时定位于载台上方预设高度;载台承载晶圆,晶圆为已边缘去胶晶圆,已边缘去胶晶圆包括边缘裸露区;喷胶胶嘴对边缘裸露区涂胶;晶圆工作在第一转速S1下旋转,喷胶胶嘴对边缘裸露区涂胶以覆盖边缘裸露区,晶圆工作在第二转速S2下旋转,形成覆盖边缘裸露区的边缘胶膜层。本发明申请能够实现晶圆边缘匀胶自动化操作,使得晶圆边缘匀胶过程稳定和可控,提升了晶圆边缘匀胶的效率和均匀性。
技术关键词
匀胶装置 匀胶方法 机械臂 胶膜 载台 晶圆刻蚀工艺 涂胶 光刻胶 接触点 喷胶 基座 胶液 半导体 连线 环形