物体表面缺陷检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备

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物体表面缺陷检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备
申请号:CN202511133371
申请日期:2025-08-13
公开号:CN121032948A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种物体表面缺陷检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备,该方法包括:获取待检测物体表面的图像数据,对所述图像数据进行分组,得到多组所述图像数据;构建分组卷积网络模型,其中,所述分组卷积网络模型是通过多组数据训练得到的,所述多组数据中的每组数据均包括:历史图像数据和所述历史图像数据中的缺陷信息对应的标签;应用所述分组卷积网络模型对多组所述图像数据进行处理,得到缺陷信息,其中,所述缺陷信息是表征所述图像数据中的缺陷的信息。通过本申请,解决了现有技术中不能准确识别物体外表面的缺陷的问题。
技术关键词
卷积网络模型 检测物体表面 真实图像数据 可读存储介质 卷积特征 物体表面缺陷 计算机 电子设备 通道 参数 程序 标签 处理单元 存储器 处理器 尺寸