摘要
本发明公开了一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法,主要包括双传感卡尔曼滤波方法与Double Deep Q‑Network强化学习方法。光电编码器的双传感模块的可以在辐射损伤导致主传感损坏后启动副传感,提高编码器整体抗辐射性能。本发明将副传感获得的位置数据作为双传感卡尔曼滤波方法中状态估计方程的参数,用来补偿主传感在辐射损伤中出现的位置误差,DDQN强化学习方法优化卡尔曼滤波算法中的超参数。本发明提出的一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法,可以提高绝对式光电编码器耐辐照能力,补偿辐射损伤造成的精度下降,解决了从主传感切换副传感时出现的位置丢失问题。