一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质

本申请提供一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质，通过在待测电子元器件的输入端施加脉冲激励信号，并确定待测电子元器件的等效寄生参数集合；基于等效寄生参数集合结合待测电子元器件的测试路径构建对待测电子元器件进行测试时的信号路径仿真网络，通过信号路径仿真网络对初始测试信号进行测试响应分析，得到初始测试信号在传输过程中的信号预补偿系数；将基于信号预补偿系数确定的频谱整形测试信号施加至待测电子元器件，并确定频谱整形测试信号在待测电子元器件下的实际响应与预期响应的波形保真度；并基于波形保真度判定待测电子元器件通过是否测试。本申请提供的技术方案，可在测试信号产生畸变偏差下对待测电子元器件进行有效测试。